首页 >  Term: сканиращ електронен микроскоп (SEM)
сканиращ електронен микроскоп (SEM)

Базирани към светлина на електронен микроскоп, използвани да проучат, в три мерен екрана изображение, структурата на повърхността на подготвени екземпляри.

0 0

创建者

  • Borislaw
  • (Burgas, Bulgaria)

  •  (V.I.P) 56410 分数
  • 100% positive feedback
© 2025 CSOFT International, Ltd.