Säteittäinen kaavio-järjestelmän, joka mahdollistaa käyttää ilmakehän pohdinta-aika ja valon taittumisen ilmiöiden laajentavat sen näköyhteydessä ylittävät detektioraja. Tutkalaitteiden over--horisontti voi olla joko toimitettava pistekaavion tai edellinen XY-järjestelmiä.