首页 > Term: סריקת מיקרוסקופ אלקטרוני (סאם)
סריקת מיקרוסקופ אלקטרוני (סאם)
מבוסס על קרן אלקטרונים מיקרוסקופ המשמש כדי לבדוק, בתמונה שלושה מסך תלת-מימדיים, מבנה פני השטח ולכן מוכן.
- 词性： noun
- 行业/领域： 生物技术
- 类别 Genetic engineering
- Organization: FAO
0
创建者
- Sarah Cohen
-
(V.I.P) 33583 分数 - 100% positive feedback
(Haifa, Israel)
