首页 >  Term: 走査型電子顕微鏡 (SEM)
走査型電子顕微鏡 (SEM)

、3 つの次元の画面の画像では、準備された標本の表面構造のチェックに使用する、電子ビームを用いた顕微鏡。

0 0

创建者

  • Kenji
  • (Kobe, Japan)

  •  (V.I.P) 27335 分数
  • 100% positive feedback
© 2025 CSOFT International, Ltd.