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스캐닝 전자 현미경 (SEM)

3 차원 화면 이미지에서 준비 된 표본의 표면 구조를 검사 하는 데 사용 된 전자 빔 기반 현미경.

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创建者

  • Hyun-woo Kim
  • (Seoul, South Korea)

  •  (V.I.P) 28279 分数
  • 100% positive feedback
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