首页 >  Term: Scannende Elektronen Microscoop (SEM)
Scannende Elektronen Microscoop (SEM)

Een microscope electron-beam-gebaseerde is gebruikt om te onderzoeken, in een drie dimensionaal beeld, de oppervlaktestructuur van bereid specimens.

0 0

创建者

  • Katrine02
  • (Copenhagen, Denmark)

  •  (V.I.P) 63540 分数
  • 100% positive feedback
© 2025 CSOFT International, Ltd.