首页 >  Term: сканирующий электронный микроскоп (SEM)
сканирующий электронный микроскоп (SEM)

Микроскоп на основе пучка электронов, используется для изучения, в трех размеров изображения, структура поверхности подготовленных образцов.

0 0

创建者

© 2025 CSOFT International, Ltd.