首页 >  Term: scanning electron microscope (SEM)
scanning electron microscope (SEM)

ข้อโดยใช้ลำแสงของอิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์ใช้ในการตรวจสอบ ในรูปแบบภาพสามมิติจอ โครงสร้างพื้นผิวของ specimens ที่เตรียม

0 0

创建者

  • Brihaspati
  •  (V.I.P) 33258 分数
  • 100% positive feedback
© 2025 CSOFT International, Ltd.